尼康晶圓，NWL200系列

功能齊全的NWL200機型支持通過光學顯微鏡或圖像測量儀（如Nikon NEXIV），對直徑為6英寸（150mm）和8英寸（200mm）的半導體晶圓的創(chuàng)新設(shè)計和材料進行quan方位檢測。

復雜、可靠的裝載機處理各種晶圓

chao強的半導體晶圓裝載機系列，能夠?qū)⒅睆綖?英寸（150mm）和8英寸（200mm）的晶圓轉(zhuǎn)移到厚度為100微米（工廠制造選項）的尼康Eclipse L200N和LV150N顯微鏡或NEXIV VMZ-S視頻測量儀器上。

產(chǎn)品亮點

半導體生產(chǎn)中的高可靠性

例如，當電源意外中斷時，宏支臂的真空卡盤保持激活狀態(tài)，允許安全取出晶圓。

宏觀檢查功能

支持半導體晶圓前圖案側(cè)、后周邊和中心區(qū)域檢測。可自動或手動設(shè)置晶圓旋轉(zhuǎn)速度和傾斜角度。

專為zui大產(chǎn)量而設(shè)計

帶有非接觸式定心機構(gòu)的快速晶圓盒升降器可使用多支臂系統(tǒng)jing確快速對齊晶圓，以zui高精度裝載和卸載晶圓。

人體工程學設(shè)計理念

NWL200符合人體工程學設(shè)計，易于操作和控制。

向左轉(zhuǎn)35度時，輕松進行晶圓入槽定位和全盒交換。

核心功能